SISS-23

Japanese (日本語)

The 23rd Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS-23) will be held on 13th (Thu) and 14th (Fri) June 2024 at Tokyo University of Science, Japan.

SISS-23 will cover TOF-SIMS, D-SIMS, Atom Probe, SNMS and related techniques based on ion-solid interactions: fundamentals, instrumentation, and application in various fields, such as semiconductors, industrial materials, biological, medical, and environmental sciences. SISS-23 will be held in the part of activities of MBA technical committee of the Japan Society of Vacuum and Surface Science.

-SISS-23 has concluded. We extend our sincere gratitude to all who participated.

Event Outline

Date
Thursday, June 13th, and Friday, June 14th, 2024.

Venue
Morito Memorial Hall, Tokyo University of Science(MAP

Programs (Link)
Time Table (Download)

Invited Speakers

Open the short abstract page ShortAbstract_SISS23

Ahsan HabibUniversity of Dhaka
Chang Min ChoiKorea Basic Science Institute
Ron M.A. HeerenMaastricht University
Haibo JIANG  The University of Hong Kong
Hua Tian University of Pittsburgh
Jeramy ZimmermanColorado School of Mines
Paul PigramLa Trobe University
Masahiro Taniguchi Kanazawa Institute of Technology
Masato MoritaKogakuin University
Ken-ichi Bajo Hokkaido University
Tsubasa YabuchiKao

Call for papers

Deadlines for presentation proposal:
Oral  : April 30, 2024
Poster : April 30, 2024
※The deadline for presentation proposals has been extended.

In SISS-23, Poster Award (named “Karen Award”) will be designed for the most outstanding presentation of research.

Abstract Submission

All invited and contributed presenters are requested to write abstracts.
Please prepare a MS-Word or PDF file of your abstract (A4 page size, within 2 pages (1  page or 2 pages) and submit from below.
Submit form

[Abstract template] SISS23_template

Deadline for abstract submission: April 30, 2024

Registration(Acceptable for online participation)

Registration Form:Click here to register

In addition to the registration form above, please pay the registration fee via PayPal.
Invited speakers do not need to do the following.

Registration Fee

General 8,000JPY, Student 2000JPY

Please note that due to the limited number of participants, on-site registration will not be possible on the day of the event. Please register in advance by Monday, June 10

Payments will only be accepted only via PayPal. Please select an appropriate registration fee category and then click on the bottom of “今すぐ購入 ” (this icon means Buy Now) to go to the PayPal page. The SISS-23 registration fee will be credited to JVSS (The Japan Society of Vacuum and Surface Science).

参加区分

Organizing Committee

Organizer

Satoka AoyagiSeikei University

Executive Committee

Masashi NojimaExecutive Committee Chair, Tokyo University of Science
Kosuke Moritani Program Chair, University of Hyogo

Committee Members

Yasuyuki AsaharaAmetek
Makishi IshikawaAmetek
Tatsuya IshikawaULVAC-PHI
Retsu OiwaToyama
Masataka Ohgaki Hitachi High-Tech Science
Shinya OtomoFurukawa Electric
Masayuki OkamotoKao
Yasuko KajiwaraMurata Manufacturing
Masahiro Kudo Seikei University
Reiko SaitoToshiba Corporation
Atsushi Sakaki Nichia
Naoya Sakamoto Hokkaido University
Junichiro SameshimaToray Research Center
Kaori Jogo   Toshiba Nanoanalysis
Toshio Seki  Kyoto University
Akio TakanoToyama
Masahiro TaniguchiKanazawa Institute of Technology
Ichiro NomachiSony
Satoshi NinomiyaUniversity of Yamanashi
Manabu HashimotoIONTOF Japan
Jiro MatsuoKyoto University
Ichiro Mihara  Kuraray
Hisayoshi YurimotoHokkaido University

SISS-23J

SISS-23(対面を中心とするハイブリッド開催)

第23回イオンと固体の相互作用に基づく二次イオン質量分析に関する国際科学シンポジウム(SISS-23)を下記の日程にて開催します。
SISSは、TOF-SIMS, D-SIMS, Atom Probe, SNMSおよびその関連分野に関する国際シンポジウムであり、イオンを活用した新たな計測手法への展開を目指して活発な議論ができる場にしたいと考えています。皆様の積極的なご参加をお待ちしております。
 本シンポジウムは、日本表面真空学会マイクロビームアナリシス技術部会の活動の一環として実施されます。

-SISS-23は終了致しました。ご協力・ご参加頂いた皆様に感謝申し上げます。

開催概要

開催日
2024年6月13日(木)・14日(金)

会場
東京理科大学 森戸記念館(第1・第2フォーラム・第1・第3会議室)(外部サイト

プログラム(外部リンク) 
タイムテーブル(ダウンロード) 

招待講演者

短編要旨をご参照ください。ShortAbstract_SISS23

Ahsan HabibUniversity of Dhaka
Chang Min ChoiKorea Basic Science Institute
Ron M.A. HeerenMaastricht University
Haibo JIANGThe University of Hong Kong
Hua TianUniversity of Pittsburgh
Jeramy ZimmermanColorado School of Mines
Qiu-li Li Chinese Academy of Sciences
Paul PigramLa Trobe University
谷口 昌宏金沢工業大学
森田 真人工学院大学
馬上 謙一北海道大学
矢渕 翼花王

発表募集

口頭発表    2024年4月30日(火)
ポスター発表  2024年4月30日(火)

なお、優れたポスター発表を行った講演者に加連賞(Karen Award)が贈られます。積極的なご投稿をお待ちしております。

ポスター発表は、ショートプレゼンテーションを会場とオンラインのハイブリッド方式で実施し、ポスターセッションは会場に限る対面開催を予定しています。

発表方法

口頭発表は英語での発表をお願いします。
スライド、ポスターは必ず英文で作成してください。
ポスター発表では、2分程度のショートプレゼンテーションもお願いしています。

要旨提出

発表者には要旨の提出をお願いいたします。
MS-WordもしくはPDFファイルを(A4 page size, 1 page or 2 pages)をご準備ください。
下記フォームから必要事項を記入してご提出ください。
申込フォーム
 
要旨テンプレート:SISS23_template

要旨提出期限:2024年4月30日(火)

参加登録(オンライン参加も可能です)

 参加登録フォーム:締切ました

 現地での参加可能人数に制限があるため、開催当日の現地での参加登録はできません。     
 事前の参加登録をお願いいたします。
 受付期限:6月10日(月) 

 上記フォームの参加登録に加えて、PayPalで参加費のお支払いもお願いいたします。
(招待講演者の方は参加費の支払いは必要はありません)

■参加費
 一般 8,000円、学生 2,000円

お支払いはPayPalのみとなります。また、PayPalはインボイス制度に対応しておりません。
SISS-23の参加費は、日本表面真空学会へ振り込まれます。

参加区分
一般 ¥8,000 JPY学生 ¥2,000 JPY

お問合せ先

SISS-23 運営委員会事務局

Award



Purple Ribbon

Professor Hisayoshi Yurimoto, the chair of SISS, received the Medal of Honor with Purple Ribbon in April 2020.



Karen Award

Karen Awards (Best Poster Presentation Awards) Winners


SISS-24 in 2025

Azumi Nomura (University of Hyogo)
“Analysis of TOF-SIMS data of polymer mixture samples using correlation analysis”

SISS-23 in 2024

Yu Liu (Chinese Academy of Sciences)
“Correction of Matrix Effect in SIMS Silicon Isotope Analysis of Glass Samples”

SISS-22 in 2023

Makiko Fujii (Yokohama National University)
“Study on desorption/ionization efficiency of polymer moleculesaffected by mixing with non-aromatic organic acids”

Erika Nakata (Seikei University)
“Evaluation of biomolecule distribution in human skin by ToF-SIMS”

SISS-21 in 2021

Rie Shishido (Tohoku University)
“Effect of Carboxylic Acid Matrix on Sensitivity of Phospholipid in Bi-Cluster SIMS Measurements”

Mikihiro Kawase (University of Yamanashi)
“The Effect of Capillary Inner Diameter on Polystyrene Sputtering Produced by Vacuum Electrospray Droplet Ion Beams”

SISS-20 in 2018

Tokio Norikawa (Tokyo University of Science)
“Mass separation of AuGe alloy using rotating electric fields (Ⅱ)”

Reiko Saito (Toshiba Memory Corporation)
“Matrix and Element Dependences of Useful Yield in Si and SiO2 Matrices Using Laser-Ionization Sputtered Neutral Mass Spectrometry”


Dr. Akiya Karen (Toray Research Center)
We are very sorry to inform that Dr. Akiya Karen (Toray Research Center, Japan) passed away on 11 March 2017. Akiya will be sorely missed, both scientifically and humanly, by his many friends and colleagues.



SIMS Meeting 16

SIMS 研究会 16(成蹊大学・2023年8月31日)

2023年度 SIMS研究会 16

「GCIB・水クラスターイオン、液滴イオンビームおよびエレクトロスプレーの応用」
~原理と基礎から開発・応用のヒントまで~

趣旨:ガスクラスターイオンビーム(GCIB)は、有機物試料のスパッタリングに広く使われるようになり、GCIBによって表面分析分野は新しい時代を迎えたと言っても過言ではないと思います。また、二次イオン質量分析 (SIMS) の一次イオン源として用いることによって、有機物を対象とする質量イメージングの応用の幅を劇的にひろげました。そのようなGCIBの応用の最前線と水クラスターイオン・液滴イオンビームの今後を考える研究会を開催します。

開催概要

開催場所:成蹊大学 6号館4階 401号室 (対面形式)もしくはZoomによるオンライン参加
開催日: 8/31(木)13:00-17:00

講演者
13:00 – 13:45 瀬木利夫 先生(京都大学)
「ガスクラスターイオンビームの基礎とSIMSへの応用(仮)」

13:45 – 14:30 盛谷浩右 先生(兵庫県立大学)
「液体材料からのクラスター形成とToF-SIMSへの応用(仮)」

14:30-14:50 休憩

14:50 – 15:35 二宮 啓 先生(山梨大学)
「真空エレクトロスプレー液滴イオンビームの発生と表面分析での利用(仮)」

15:35 – 16:20 大塚洋一 先生 (大阪大学)
「直接抽出-イオン化法による生体組織・細胞の高精細質量分析イメージング(仮)」

16:20 – 17:00 Prof. Nick Lockyer 先生 (The University of Manchester)
“Water Cluster SIMS (tentative)”

参加費
一般:税込 2,000円(対面・オンライン)
学生:無料